CT820X裸Die半导体激光器芯片测试系统集DUTID扫描、晶圆环加载、运输、高温测试、低温测试、卸载和分拣于一体。支持正向和反向光学与电学特性测量。支持多温区测试载台，涵盖高、低、室温并行测试。CT820X是一个非常快速的系统。可在5.5~6s内完成整个工艺流程。